Intel Delta-L插入损耗测试

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半导体参数测试

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产品中心

  • PCB/FPC高频特性测试方案

     

    针对PCB/FPC及IC载板类产品,可实现自动、半自动及手动多模式、多点、快速精准的阻抗、S参数和Delta-L等高频参数的量测

     

     ✦ 信号完整性测试:TDR和S参数

     ✦ 精准测量Insertion Loss

     ✦ 支持TRL,AFR和Delta-L测试方案

     

     

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  • JTTS Cable高频特性自动化测试

     

    通过软件控制网络分析仪、高频矩阵开关系统实现高速线缆组件的SI自动化测试,同时将测试所得数据进行处理,生成特定格式的测试报告

     

     ✦ 能准确快速量测产品的 Differential impedance、Common Impedance、Intra-pair Skew、Inter-pair Skew、Delay、Rise time、Insertion Loss、Return Loss、ILD、Crosstalk、ICN等高频性能参数

     ✦ 技术特点:半/全自动测试,配合开关矩阵系统,可以大大提高测试效率;IFFT功能,自动判定和生成报告;API接口,可以二次开发

     

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  • 材料电磁特性测试系统方案

     

     

    用于高频材料的介电常数、磁导率、反射特性、衰减、屏蔽特性及损耗角正切等参数的电磁特性测试

     

     ✦ 频率范围覆盖DC-110GHz,甚至THz

     

      •  同轴探头法        •  传输线法

      •  自由空间法        •  谐振腔法

      •  电感测量法        •  平行板法          

     

     

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  •   •  毫米波和微波器件测量

      •  功率器件测量

      •  射频芯片自动化实验室方案

      •  半导体芯片性能测试和失效分析

     

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  • 光电芯片测试

     

     ✦ 有源频域S参数等测试,Up to 110GHz

     

     ✦ 无源IL/PDL等参数测试

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    高速光模块误码率和眼图测试

     

     ✦ 误码率、灵敏度等测试

     

     ✦ 眼图测试、TDECQ等测试

  • 高速数字信号自动化测试方案

     

    自主研发高速数字信号自动化测试系统,大大提升了测试效率和减少人工操作误差,确保测试结果的准确性和一致性

     

     

    测试夹具

     

     ✦ PCIe G5 Test Fixture

     ✦ MIPI C-PHY/D-PHY Reference Termination Board

     

     

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    电子测试测量仪表

     

     ✦ 网络分析仪

     ✦ 实时示波器

     ✦ 采样示波器

     ✦ 误码率测试仪

     ✦ 任意波形发生器

     ✦ 光波元器件分析仪

     ✦ 信号发生器

     ✦ 频谱分析仪

     ✦ 半导体和功率器件分析仪

     ✦ ……

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