捷泰普科技再次赢得大厂青睐

近日，全球知名半导体制造商中兴微电子有限公司（以下简称“中兴微电子”）采用捷泰普科技的TDR（Time Domain Reflectometry）探头进行芯片失效分析测试。此次合作标志着中兴微电子在芯片失效分析领域的技术升级，这也是继美国Apple Inc.公司之后，又一家科技巨头对捷泰普科技的先进技术和服务表示认可。

捷泰普科技的TDR探头因其高精度、高稳定性和高可靠性而受到业界的广泛好评。捷泰普科技的TDR探头是一种非破坏性检测工具，可用于检测半导体器件的电气特性，如电阻、电容、电感等。通过对芯片施加脉冲信号，TDR探头可以测量信号在不同路径上的反射时间，从而判断芯片内部的结构完整性和电气性能。与传统的X射线检测方法相比，TDR探头具有无辐射、低成本、速度快等优点。

中兴微电子一直致力于提高芯片的性能和可靠性。随着5G、物联网等新兴技术的快速发展，对芯片的需求也在不断增加。因此，中兴微电子需要更高效、更准确的方法来检测芯片的失效，以确保产品的质量和安全。

捷泰普科技的TDR探头凭借其卓越的性能和广泛的应用前景，成为了中兴微电子的理想选择。据悉，双方将在未来的项目中展开深入合作，共同推动芯片失效分析技术的发展和应用。

业内专家表示，中兴微电子选择捷泰普科技的TDR探头进行芯片失效分析测试，不仅有助于提高产品质量和安全性，还将进一步推动国内半导体产业的发展。随着越来越多的企业开始关注芯片失效分析技术，未来国内半导体产业将迎来更广阔的发展空间。

此次合作再次证明了捷泰普科技在TDR测试领域的领先地位，也再次证明了其在全球电子测试设备市场的自主创新能力，也为公司的未来发展开辟了新的可能。未来，捷泰普科技将继续秉持“科技创新，服务社会”的企业理念，为全球的电子设备制造商提供优质的产品和服务。

40GHz TDR差分探头

26.5GHz TDR单端探头