Delta-L 3.0/4.0 & DK/DF测量系统方案

       Delta-L 3.0/4.0 是新一代PCB插入损耗量测方法，为了解决更高频率量测时Launch Pad以及 Via 的负面效应，得出精确线路部分的LOSS 测试结果。Delta-L测量后同时提取PCB成品板的 DK/DF值， 可在不破坏 PCB 成品板的物理结构，提高测量效率。

系统概述

       信号高频、高速化发展对信号完整性要求越来越严格，阻抗匹配、传输损耗的质量成为信号完整性至关重要问题。 传统的PCB损耗测试往往无法得到客户想要的线路部分的损耗，包含 Launch Pad以及Via的负面效应；因此导至测量误差大、对PCB工厂选材造成很大的困扰。

       JTP Delta-L 3.0/4.0 是基于 Intel 新一代PCB插入损耗量测方法，为了解决更高频率量测时 Launch Pad以及Via 的负面效应，Delta-L 测试方法量测三条（或两条）不一样长度的线来得到纯粹的线路信号损失。在原理上Delta-L 4.0 量测一组有三条（或两条）不一样线长的样品，量测后将两长短线 的插入损失相减，就可以得到纯 粹线路长度差异所造成的损失，最后再除以长度差，就可以得到单位长度的损失（如 dB/In, dB/cm）。并且提供 不确定性 (Uncertainty) 还有两两线长相减的结果来做自我比对，提供高精确的线路损耗结果。同时根据所得到 数据反推DK/DF值，不需要破坏PCB板结构。

系统特性

 • 基于 INTEL 算法要求 Delta-L4.0 / 3.0 测量，符合 INTEL 及 IPC 相关标准

 • 测量速度 :3~5s/poit • 同步自动阻抗测试

 • 单端及差分 Delta-L 测试，自动计算 Delta L4.0 测试结果

 • 自动生成报告 EXCEL 测试报告、图片等原始测量资料及 SnP 文件存储

 • 测量数据自我比对 (Difference) 以及不确定性参数验证 (Uncertainty) • 高达 40GHz 的增强物理拟合算法，良好的重复性

 • 自动 Pass/Fail 判断 每个测点量测完成自动显示 Pass/Fail 于画面上

 • 单独验证每对线中的 S21&S43 Spec 控制功能，提前验证线路好坏

 • 搭配脚踏开关，快速测试

 • 全频段 DK/DF 参数提取，无需谐振腔体

 • WIN10/WIN7 操作系统，强大的报表输出功能 ：可提供丰富的报表模版

订购信息