测试服务业务范围

PCB/Cable等阻抗测试

       特性阻抗(Characteristic Impedance)在电路设计上为最基本的电气参数，阻抗通常使用TDR(Time Domain Reflectometer) 或者VNA(Vector Network Analyzer)搭配合适的探头进行测试。捷泰普科技阻抗测试支持以下参数测试：

• 支持单端与差分阻抗测试(Single Ended and Differential Impedance)；
• 支持板间和板内测试；
• 支持BGA区域探针测试；
• 测试频率 - Up to 40 GHz；
• 符合IPC TM 650 2.5.5.12测试规范。

S参数测试 ( S Parameter Measurement )

       S参数( S Parameter)在电路设计上为基本的电性参数之一，通常以2端口或者 4端口的形式表現，4 Port S参数包含16个项目。S参数为接收能量与入射能量的比值，最常使用的就是插入损耗(Insertion Loss）和回波损耗(Return Loss)。S参数测试通常使用网络分析仪(VNA, Vector Network Analyzer)搭配合适的探头或者夹具进行测试。捷泰普科技S参数测试设备可以进行以下参数测试：

• 支持单端或差分测试( Single Ended and Differential)；
• 支持板内测试；
• 支持BGA区域探针测试；
• 测试頻率 - Up to 67 GHz；
• 测试点Pitch - 0.1 ~ 1.5 mm。

Delta-L 4.0/3.0, SET2DIL Measurement

       Delta L 与SET2DIL为Intel专为PCB行业量身打造的Insertion Loss测试方法，意在最大程度的降低Differential Insertion Loss测试的难度与成本。这些方法皆使用标准的设计样品测试，让测试过程变得标准化，并且搭配标准的测试夹具进行快速测试。

• Delta L – 支持Delta L 3.0/4.0测试；
• SET2DIL – 支持SET2DIL测试；
• 测试频率 - Delta L 3.0 支持到20 GHz, Delta L 4.0 支持到40 GHz；SET2DIL 支持到10 GHz。

高速光模块眼图和误码率测试

高速数字信号测试